Technology Risk Management Forum 2018 | 20-21 czerwca 2018, Wrocław

Konferencja Technology Risk Management Forum 2018 to najważniejsze spotkanie dotyczące tematyki bezpieczeństwa informacji i zarządzania ryzykiem technologicznym na Dolnym Śląsku.

Tematem przewodnim 3 edycji konferencji jest zmierzenie się z wyzwaniem, jakim jest współczesny wymiar bezpieczeństwa technologicznego. Rozwiązaniem jest całościowe, holistyczne podejście do bezpieczeństwa. To droga, na której wychodząc od siebie samego, lepszego poznawania własnej organizacji, dochodzimy do przeciwnika, jego motywacji i sposobów działania

Zapraszamy na TechRisk 2018 – konferencję o bezpieczeństwie informacji w czasach, gdy każdy o tym mówi, ale niewielu potrafi robić to dobrze.

Wśród ekspertów, którzy tworzą tegoroczny program konferencji, m.in.:

  • Grzegorz Długajczyk – ING Bank
  • Przemyslaw Gamdzyk – CSO Council
  • Łukasz Guździoł – Credit Suisse/TRISW/ISSA Polska
  • Borys Łącki – Logical Trust
  • Artur Marek Maciąg – BNY Mellon Poland
  • Witold Małaszuk – Getin Noble Bank
  • Paweł Maziarz – Immunity Systems
  • Bartosz Nowak – EY Global Services (Poland) InfoSec Team Lead
  • Robert Pławiak – Europejski Fundusz Leasingowy
  • Ireneusz Tarnowski – Bank Zachodni WBK

Dlaczego warto wziąć udział w konferencji?:

  • Konferencja odbędzie się w sprawdzonej formule: warsztatów, prezentacji w sesjach równoległych oraz możliwość wyboru interesujących tematów w dyskusjach przy okrągłych stołach.
  • W programie aktualna tematyka, wiele inspiracji i ciekawych przykładów
  • Poprzednie edycje konferencji TechRisk cieszyły się bardzo dużym zainteresowaniem i zostały dobrze ocenione przez uczestników. Zapraszamy do obejrzenia relacji z poprzedniej edycji>>

Z przyjemnością informujemy, że ISC2 Chapter Poland objął konferencję TechRisk 2018 patronatem.

Organizatorzy przygotowali dla Państwa specjalne warunki udziału – z kodem „ISC2 Chapter” 10% rabatu przy zgłoszeniu do 18 maja!

Więcej informacji oraz zgłoszenie udziału poprzez stronę www>>>

 


Opublikowano

w

przez

Tagi: